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介電常數介質損耗測試儀參數介紹

更新時間:2019-06-24      點擊次數:2566

 

介電常數介質損耗測試儀參數介紹

中航鼎力介電常數測定儀, LJD-C介電常數測試儀簡介 滿足標準:GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。

參數指標

 

 

附表一,介質損耗測試系統主要性能參數一覽表

S916測試裝置                           介電常數測試儀高頻Q表

 

 
平板電容片Φ50mm/Φ38mm可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm主電容調節范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)Q測試范圍2~1023

 

介電常數測試儀附表二,LKI-1電感組典型測試數據

 

 
線圈號測試頻率Q值分布電容p電感值
9100KHz989.425mH
8400KHz13811.44.87mH
7400KHz202160.99mH
61MHz19613252μH
52MHz1988.749.8μH
44.5MHz231710μH
312MHz1936.92.49μH
212MHz2296.40.508μH
125MHz
50MHz
233
211
0.90.125μH

介電常數介質損耗(介質損耗角)測試儀 
 
型號:LJD-C

一.介電常數測試儀主要特點:
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 

二.介電常數測試儀主要技術特性:
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。


三.介電常數測試儀儀器技術指標:
☆Q值測量:
a.Q值測量范圍:2~1023。              b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差

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